DFT，可测试性设计-

2018年2月15日 — At-speed testing, also known as at-speed scan testing, is a technique used in the field of DFT to verify the functionality and integrity of ...

2020年12月28日 — AT SPEED Test last_shift launch mode （低速测试） system_clock launch mode ( launch on capture) 1.at speed test structure and OCC Controller ...

2017年1月11日 — 传统的stuck-at故障模型已不能充分覆盖这一类问题，因而新的delay故障模型应运而生。对delay故障模型求解的结果就是产生出所谓的at-speed测试向量。此类 ...

EE Times examines techniques for making at-speed testing easier, including an overview of path delay model and transition delay model.

延遲測試也稱作AC測試、動態測試、或全速（at-speed）測試（以工作時脈的速率測試）。有兩種基本的延遲測試法：瞬變故障（transition fault）和路徑延遲（path delay）。瞬 ...

• At-Speed Testing. – catching timing defects. • Fast. – reduce the testing ... – A power-up test used in wafer test, system test, field test. Logic BIST Example.

2021年12月28日 — at-speed test:生成快速时钟. at_speed 测试需要工具在慢时钟(shift阶段)和快时钟(capture阶段)进行切换(对于broadside 的方式);默认片上的PLL 会被用 ...

2023年6月8日 — At-speed testing in VLSI refers to a technique used to test integrated circuits (ICs) at their operational speed or the maximum speed at which ...

Speedtest 應用程式版功能較佳下載Speedtest 應用程式來使用其他度量指標、影片測試、手機收訊地圖等眾多功能. Get it on Google Play.

2016年10月8日 — at-speed 就是实速测试， 主要用于scan测试－即AC测试，和mbist测试。这种测试手段的目的是－测试芯片在其工作频率下是否能正常工作，实速即实际速度。